OECD与WIPO（世界知识产权组织）联合组织的一次专利统计研讨会议于2003年9月18~19日在WIPO总部日内瓦召开。会议由WIPO与OECD 联合主持。研讨会将提供机会使专利统计人员和专利数据使用人员一起交流和讨论专利统计的现状、对专利统计的需求，确定如何改进和提高专利统计的质量和适用性以满足用户的需求。会议主要涉及当前的各类专利统计以及与专利指标有关的新方法，重点是与专利有关的分析方法。中国科技部派成邦文与秦浩源作为专家出席会议，并于各国专家进行了经验交流。